近几年eMMC与UFS的应用领域快速的从手机应用延伸到IoT、工业、医疗甚至是车用电子。
这个微小的芯片中,储存了许多重要的数据,在面对各种不同的应用场景时,芯片的可靠度、衰老以及对于工作环境温度的稳定性也变得较为重要。
如何确保产品所使用的eMMC与UFS能够在这些艰难的环境下提供稳定的功能与效能表现也成为工程师较为关注的项目。
EFTech提供了一系列的eMMC/UFS多功能测试系统,此系统整合了硬件与软件透过少见的算法技术对eMMC/UFS进行快速且完整的可靠度测试。
系统提供高达六十四个组的测试空间,并且支持在较端温度(-40゚C ~ 120゚C)的条件下进行一系列的产品测试。
我们测试的范围涵盖:
s Smart power-cycle test with voltage level control
s Retention/endurance/WAF/Refresh test
s Performance test for aged levels and performance benchmark
s System level compliance test
系统提供了简洁使用的图形化操作接口,让工程师可以透过软件快速地进行测试并且观察测试的状态,
所有的测试结果与数据也将完整地纪录下来。